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蔡司掃描電鏡（SEM）顯微鏡的檢測原理主要基于電子與物質的相互作用。以下是詳細的原理說明： 1.電子束的產生與聚焦：在SEM中，首先由電子槍在鏡筒的頂部產生一束高能電子。這些電子經過聚光鏡和物鏡的聚焦和縮小，形成具有特定能量、束流強度和束斑直徑的微細電子束。 2.掃描過...
在五金塑膠件制造領域，高精度的測量技術是保證產品質量和生產效率的關鍵。蔡司三坐標CAPTUM檢測設備以其卓越的測量精度和廣泛的應用范圍，成為五金塑膠件測量的精準利器。 蔡司三坐標CAPTUM檢測設備擁有三個坐標軸--X軸、Y軸和Z軸，這三個軸可以分別移動，使測量儀能夠在三個方...
在科技日新月異的今天，半導體芯片作為現代電子設備的核心部件，其質量與安全直接關系到整個電子系統的性能和穩(wěn)定性。然而，隨著芯片制造技術的不斷提升，其內部結構愈發(fā)復雜，傳統的檢測手段已難以滿足日益嚴格的質量要求。此時，蔡司X-ray無損探傷檢測設備以其卓越的檢測能力...
CALYPSO軟件讓蔡司三坐標CONTURA測量更簡單、更強大
蔡司工業(yè)CT在AI液冷散熱器導熱管結構與材料學領域的深度分析
X射線蔡司工業(yè)CT無損檢測GPU視覺圖形處理器內部缺陷
廣東三本測量蔡司三坐標影像儀掃描儀亮相大灣區(qū)工博會
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